HP4274A LCR电桥能快速测量电感L、电容C、电阻R、损耗因素D、品质因素Q、电导G、电纳B、电抗X和矢量阻抗|Z|及相位角θ,其频率范围从100Hz到100kHz共13个可选频率测试点。测试电压范围为1mV～5Vrms, 适应于电路设计、产品实验、质量检查多方面测量要求。这种可变的测试信号为测量非线性阻抗元件,如电感和半导体器件带来很大方便

HP4274A 多频LCR电桥测试原理及应用 HP4274A LCR电桥能快速测量电感L、电容C、电阻R、损耗因素D、品质因素Q、电导G、电纳B、电抗X和矢量阻抗|Z|及相位角θ,其频率范围从100Hz到100kHz共13个可选频率测试点。测试电压范围为1mV～5Vrms, 适应于电路设计、产品实验、质量检查多方面测量要求。这种可变的测试信号为测量非线性阻抗元件，如电感和半导体器件带来很大方便。

该仪表测量值用两部分4½数字单元显示，并可以把每10次测量值进行平均后以5½数字显示。另外，它还提供测试元件时的信号电压和施加电流3位数显示，以便监视测试时的电压、电流情况。

该仪表的电容测试范围为0.01pF～1999.0mF（1毫微微法拉=10-15法法法拉）,电感为0.001nH～1999.9H, 电阻和阻抗为0.001mΩ～19.999MΩ。所有测量精度为0.1%～10%, 这主要取决于测试信号的电压和频率。测量电路既可以用并联等效电路形式，也可以是串联等效电路形式。该仪表自动校准后，能使杂散电容减小到20pF，寄生电感减小到2000nH，电阻减小到0.5Ω,电导减小到5μs。

一、选择测试电路方式

我们知道，阻抗元件能由其电阻性和电抗性以简单的串联或并联等效电路表示。4274A可由“CIRCUIT MODE”控制选择测量等效电路，也能自动根据测量范围和功能设置选择合理的并联或串联方式。并联和串联方式等效电路元件的测量参数值是彼此不相同的，其差别取决于被采样测量的损耗因数。如果没有串联电阻或并联电导存在，这两个等效电路是同等的。并联测量电路的采样值可通过公式（考虑损耗因数效果）转换成串联电路，见表1。通过推导证明，对于不同的损耗因数（D）值，用串联方式测出的值与用并联测得的有差别。但当值小于0.03时，串联与并联测得的值相等。

使用该仪表采样测量元件值时应注意，测量电路是近似活动的等效电路，因此对于普通元件，选择适当的方式不是合理的标准判据。一般对测量低阻抗元件值，采用串联测量电路，而高阻抗值采用并联测量电路。例如低电容的陶瓷电容器，其并联电导是主要的损耗；高电容值的电介电容器，等效串联电阻形成泄漏电阻（电极电阻、介电损耗等）是元件损耗的主要因素。对中等范围阻抗，这个因素仍可应用，但效果不明显。串联电容的损耗因数随测试频率的增高而增大，并联损耗则呈现相反的趋势。对于电感器，可由类似的原理推出等效电路。因此可通过比较损耗因数值来确定测量电路方式。

表1 并联电路与串联电路的转换公式