红外测温仪原理检测

技术论文

!

红外测温仪原理与检测 口鞠大明

红外线是指波长为 # % , %%

入水槽或油槽上

,

待温度恒定后即 ,

微米 ,

,

频率为&

% %&

(

可以检测使用很方便

避免了每次

一赫兹波数 )厘米长度中具有

使用都要将仪表范围重新设 0的麻

波长为人的波数目 为% ( % , 一

% &

+

,

的电磁波 ,

因在可见光谱红 。

对于更高温度要求检测时 (《 ℃ 一

色端之外所以而得名 、、

/ ℃ 用千

体炉作为热

红外线是由物质内部运动的变

,

使用 4 ! 2; >便携式温度校=% 。

化如分子离子原子等的振动转动电子跃迁等而辐射的电磁波一 、

验仪

但对均热块的几何尺寸要进 ,,

,

行重新调整因为目标越远则仪器 的测0点《测 0区域 越大距离与即 。

般都把红外线分成近 分 ,

远三部 .

国际相关委员会规定 一

波长 一

测 0点大小关系通常用距离与测点根源 关系 ,

#/

%&

微米为近红外 ,

,

%&

(

物体辐射的红外能0的多少 人们在研究红外辐射时构造

大小的比值 ( ℃

,

一般为%门 9 。

并且要 ,

微米为中红外 ( 红外 。

%

微米为远

与物体的表面温度存在一定的函数 ,

求与标准器配合使用 一

另外

对于 ,

%% ℃的温度段检测时用

任何物体 ,

,

只要其温度超过绝 ,

了一个理想化的物体

对零度都能产生红外线辐射波长

是任何情况下对一切波长的入辐

黑体

,

热电偶检定炉也是一种办法 尺寸为中( ,

可将长度为?;; 的

,

集中在 内容 。

#

(

微米波段 、

因此红

,

射的吸收率都等于%的物体 、入 1《 、

黑体 .

均热块放入炉膛内温场均匀中心 )匀块的一侧要打二个中,; 均深为% 的孔 ,, 、

外线探测是能源管理与控制的重要 如红外测温仪热像装里热 、

辐射的光谱分布遵循普朗克定律

, 2 3 4 5入一【 8《了 2 一%】 67 4入 一

以便控制温场

能计等已成为能源计量与检测的重 要工具 。

普朗克定律揭示了黑体辐射具 有以下几个特征 . %《 在任何温度下黑体的光谱 ,

的传感器与标准器放入 待设定的温度稳定以后快速打开另一侧便 可快速检测 。 ,,

人们

一般在工作中遇到的大部分是红外线测温仪 ,

采用非接触红 、、

辐射度都随波长连续变化

,

每条曲 ,

对于温度要求再高一些时 % ) ℃以上 ,

外传感技术对目标进行安全准确

线只有一个极大值

则要用标准黑体作 。

快速可靠的测 0 、

,

其被广泛用于测 、、、、

)9 随着物体温度的升高与光 谱辐射度极大值对应的波长减小 ,,

为标准辐射源 总之 ,

0机械化工 、

陶瓷轻工食品冶危险 。

此类方法能最大限度模 ,,

电力热处理等行业高温

)( 随着物体温度的升高黑体辐射曲线全面提高 ,,

拟生产工作中的实际情况当然用辐射法非接触测 0固体表面温度 时 ,

及难以接近的物体表面的温度

在任何一指定 。

由于任何高于绝对零度的物体

的波长入处与较高温度相应的光谱辐射度也较大反之亦然就现有条件下 ,,

最困难的是测 0结果受被侧物 ,

都会辐射红外能量 向四周传输 。

,

该能量以光速 ,

体表面发射率所制约 、、

而表面发射 、

红外线测温仪的透镜

对于红外线测

率又与被侧物体的材料 层等有关 。

表面粗糙 ,,

收集并汇集红外能量到传感器上

(温仪器使用温度较低段时《 ℃以

度氧化程度有无油污表面水汽 这些参数变化无常很难 因而使测温的准确度下

传感器产生一个低电压输出 压与目标物体的温度成正比

,

此电电压 。

下 使用辽宁省计 0院给我单位配

,

%发型号为: 1;一<一

的红外辐射 。

定0确定降 。

,

输出经过处理后显示为温度值

温度计标准检测装里即可

只要将

物质的运动是产生红外辐射的

该装皿上面擂温度计的部分取出放

)作者单位营口市计%检定浏试所

.

Α

Β

Χ

! 0ΑΒΧΑ ΔΑΔΒΧΕ0Φ

(#

红外测温仪原理检测

红外测温仪原理检测

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