回波损耗

光线通过光元件时，大部分光线按一定的方向传输，部分光线发生了反射或散射。多数情况下，这种反射会影响系统的性能，因此属于有害反射。此时，测量系统元件的反射极为重要。

光系统中的反射可能来自各种光源。连接器、接头、光纤端、大型光学接口或探测器表面均会发生 Fresnel（菲涅耳）反射现象。反射会减小传输功率，引起检测错误，还可能干扰激光器的正常工作。因此，会降低数字和模拟系统的性能。由此可见，对光元件回波损耗的测量在研发和生产过程中将会变得日益重要。

元件的反射系数是一项用来描述元件反射光量的指标，指的是器件反射的功率与作用在器件上的功率之间的比值。通常，我们具体探讨的是元件的回波损耗。回波损耗的单位是 dB。回波损耗的公式如下:

ReturnLoss(dB)=–10log(ReflectionFactor)(dB)或

ReturnLoss(dB)=–10logReflectedPower

---IncidentPower

---------------------------------------(dB)

单次反射

回波损耗的测量方法有多种。对于单次反射的器件（如，成对的物理接触连接器），测量时需要激光源、光纤耦合器和功率计。耦合器将激光器发射的光线引导到被测器件上。然后，反射光在耦合器的引导下进入功率计检测器。

回波损耗模块可以测量光线通过光元件时所反射和散射的光线。Agilent 8161xA 系列回波损耗模块是可以与Agilent 8163B 光波万用表组合使用的紧凑式模块。回波损耗模块可用于测量回波损耗。如果附加功率计模块，还可以测量插入损耗。

图

52.回波损耗设备

仅有

Agilent 81610A 回波损耗模块未配备内置激光源。为了测量

WDM 元件和宽带器件的回波损耗，需要与合适的外部光源配合使用。所有 Agilent 8161xA 系列回波损耗模块均配有监控二极管，以补偿光源的功率变化。

测量教程

回波损耗

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多重反射

元件中存在多个反射界面时，对反射的测量就会变得更加复杂。从一个表面上反射的光线可能会与另一个表面反射的光线发生重叠，结果可能有益，也可能具有破坏性。这即是通常所指的干涉仪效应。因此，回波损耗可能会随光源的属性、反射面间的物理分隔面以及各次反射相对数量的不同而存在明显差异。

频域-时域方法可用于定位设备或系统中的多重反射。该方法先将扫描调制频率施加给激光信号，然后再将激光信号施加到被测器件上。首先，在频域中测量器件的反射或传输响应，然后再使用反向傅里叶变换将之转换为时域或距离域，便可以从时间或距离上定位到器件或系统中的反射。

用时域方法来测量设备或系统中的反射的分辨率主要取决于测量系统中的调制带宽。对于 3 GHz 的调制带宽，能够分辨的响应距离可近至 6 cm。对于 6 GHz 的调制带宽，分辨率可达 3 cm；20 GHz 系统的分辨率可达 0.9 cm，而50 GHz 系统可达 0.36 cm。Agilent 8702E、8703B 和 86030A光波元件分析仪可以利用时域方法来分辨设备或系统中的多重反射。

PIN 光敏二极管的光学回波损耗